一、问题背景

　　根据经验数据，同一批次的LED芯片中，同等驱动条件下，发光强度最大最小值比可以在200%以上，经过1：1.2分光筛选后，发光强度最大最小值比依然在35%左右。

　　目前绝大多数控制系统的逐点校正，都是通过控制驱动电流，将同等驱动条件下原始亮度高的芯片的亮度降下来，以高就低，使显示屏上所有芯片的亮度达到一致。因此，显示屏的平均亮度经过逐点校正后，会有一定的降低，这就是所谓逐点校正带来的亮度损失问题。

　　理论上，如能实现绝对精准的测量和绝对精准的驱动控制，那么将全屏LED芯片的亮度降至最低芯片亮度值上，显示屏将达到最理想的均匀度。然而这显然不现实。

　　逐点校正的亮度目标值设定需要在显示屏的亮度和均匀度之间，选择一个平衡点。

　　可以想象，芯片原始的亮度一致性越好，达到理想指标的亮度损失就越小。实际情况下，逐点校正获得的均匀度改善和亮度损失的关系是怎样的呢？

　　对这个问题，以下结合我们使用SV-1 LED屏多像素亮度测量系统对一些点阵屏样本做的实验数据加以探讨和分析。

　　二、实验数据

　　下面我们来看一组实验数据：

　　2.1  样本：

　　2.1.1 封装形式：P7.62点阵

　　2.1.2 供应商提供的芯片发光强度比：1:1.4

　　2.1.3 实测显示屏灯点亮度比：R：1:1.315；G：1:1.408；B：1:1.626(如表1所示)；

　　2.2 参数说明：

　　我们使用不同的目标亮度比例（VPT），为样本做逐点校正。逐点校正前后的均匀度评估指标为像素亮度均方差σ。

　　。。。。。。

　　更多精彩内容请见《国际光电与显示》，订阅咨询热线：0755-86149050  QQ:361295230