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LED硫化失效分析与可靠性研究

编辑:admin 2014-06-25 14:53:08 浏览:1028  来源:

 谈到LED失效,人们首先会想到正常电流驱动下出现的死灯不亮现象,或者仅仅发出微弱光线。事实上,这已是失效类型达到最严重的程度,称为灾难失效。相反,如果LED产品在平时使用中,一些关键参数特性偏离出可接受限度,例如永久性光输出衰减,色温漂移,显色指数下降等,我们称之为参数失效。

  单独从裸晶芯片(即磊晶晶粒)上考虑,出现LED产品参数失效机率很低,因为它属于一种性质很稳定的固态化合物,在规范的条件下使用,不易损坏,而处于一般应用环境也不起化学反应,因此拥有较长的寿命。然而,为使该芯片发光,必须将它黏贴在特定的载台(即支架或基板)上并以金属线或焊锡等材料连接晶粒正负极,然后用高分子材料与发光材料混合包覆在整个载台,这就是所谓封装制程,经过这段制程后的LED灯珠,包覆在芯片的封装材料极容易遭受损伤,因此,各种LED参数失效归因于封装材料的破坏和劣化。

  一、LED硫化现象

  大部分参数失效过程是一个渐变的过程,并且在开始时候不能立刻被察觉,它属于一种存在的隐患,称之为隐性失效。经过一段时间,重要材料遭到彻底破坏,最终演变成灾难失效。硫化现象就属于这种隐性失效。

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